ASTER科技作為板級可測試性和測試覆蓋率分析方面產品的領先供應商，開發出了為卓越化設計（DFX）提供支持的重要產品-TestWay，它涵蓋了從產品設計到產品交付的整個工作流程。
DFX也被稱為為財富而設計。它可以被用作一個公司的持續改進計劃，從而達到縮短產品開發周期、降低產品成本和制造周期，同時提高產品的質量，可靠性和最終客戶的滿意度的目的。這將顯著降低從產品的最初設計到交付客戶使用的完整周期，這是成功的關鍵因素。
卓越化設計使得通過設計一個精益的測試方法來制造出一個低成本同時保持最高質量的產品成為可能。
ASTER目標的實現有兩個原則：?使用可追溯性和維修反饋信息從而滿足客戶對于降低產品缺陷方面的要求，這些缺陷包括設計缺陷、制造缺陷和功能上的缺陷。?使用TestWay導入缺陷概率分析模型，從而能夠主動判定由于新產品在可測性和覆蓋率方面的不足造成的可能缺陷。
傳統上，只在布線設計結束后和轉換CAD數據到生產之前的階段才會考慮設計對制造和測試的限制。而實際上由于電路板的復雜性，我們必考慮和驗證設計和制造的每個階段。 TestWay就提供了從產品設計到產品交付的每個階段都可進行分析和驗證的支持。
其主要通過以下幾個步驟來實現：
元器件設計：主要元件被選中時，TestWay會檢查ROHS、可靠性、DPMO、驗證BSDL文件，以引導元件的選用。
電路設計：在原理圖的設計完成之后，TestWay自動校驗電子電路設計規則。這包括行業標準的規則和客戶的自定義的規則。通過在布線之前的測試模擬分析以達到測試點需求的最優化，最終可節約30％至70％的測試點。
布線設計：當布線完成之后，TestWay根據定制的測試策略優化測試探針的位置，預估測試覆蓋率、成本模型并計算成品率和TL9000初始回報率。
生產及測試設計：TestWay測試覆蓋率的預估應用了各種廣泛的測試理論模型和檢查策略。包括APM（自動貼片機）、AOI、AXI、邊界掃描測試（BST）、飛針測試（FPT）、ICT和功能測試。這些模型可以進行調整，以體現每個目標測試儀的測試和測量能力。 TestWay 可以由CAD導出貼片、AOI、AXI、ICT、飛針測試（FPT）和邊界掃描測試（BST）等設備可用的各種文件格式，輸出包括貼片和測試程序，或列表文件和測試模型以及夾具文件。
卓越化測試：一旦測試或檢驗程序調試完成并且已經導入使用，TestWay可以讀取完整的測試程序或測試報告并將測試實際覆蓋率與預估覆蓋率進行比較。所得到的分析報告使用行業標準測試覆蓋率計算方式，使用戶能夠識別預估覆蓋率和真實覆蓋率之間的任何差別。
用于印刷電路板診斷和修復的質量追溯工具可以利用詳細的測試覆蓋率分析，以提高診斷的分辨率，并加快修復進程。
可測性設計：建立生產和設計之間的有效反饋和溝通機制能使得測試為設計改進提供重要助力。
Testway 的CAD導入模塊支持多種電路網表、布線、原理圖圖形設計或其他廣泛應用于行業中的EDA工具格式。其他的一些DfX工具只能從布局階段使用，這對于現代工業設計制造來說往往為時已晚，這是Testway區別于其他DfX工具的關鍵所在。 TestWay直接應用本地CAD格式，確保整個設計制造流程的各個階段之間的互操作性。
通過TestWay， 我們把所有的這些分析工作集成在一個工具中來完成。
關于ASTER科技
ASTER是板級可測試性分析工具的領先供應商，擁有公認的專業電路板可測試性分析能力和強大的客戶關系。成立于1993年中，ASTER開發廣泛用于處理PCB可測試性方面的產品、PCB瀏覽和質量管理。TestWay是一個成熟的解決方案，為PCB設計和制造的世界各地的公司提供了一個獨特的方式來檢驗電氣的可測性和設計初始階段中對測試覆蓋率的預估。
欲了解更多信息，或獲得這些新功能的演示，請于2013年4月23日至25日在上海NEPCON中國展會期間訪問ASTER科技的展位1E52，或者訪問www.aster-technologies.com或致電 021-52383300。
