為了滿足消費者對產品形式變化上越來越高的要求,很多現代電子產品對電氣測試內容進行了精簡,其結果是對確保產品質量造成了巨大的壓力.許多應用于受限接入測試的工具,以前主要用于高端產品領域,現在已經被廣泛應用于消費類電子產品,如筆記本電腦等.同時,新技術也被不斷地開發出來,以彌補現有技術的不足,這意味著今天的用戶在應用中有了一個可供任意挑選的工具庫.以下我們著重介紹最常用和最有效的七大技術.
覆蓋擴展技術這種混合測試法的好處是可以覆蓋連接器、插座以及可以采用邊界掃描而無需進行物理接入測試的器件.
覆蓋擴展技術（CET）的出現,使得混合測試法在最近一年里有了重大進展,實現了從概念到批量制造的實際應用.其工作原理如圖1所示.
對一款筆記本電腦產品的分析表明,在總共2,100個節點中,有28％可受益于這種技術,這相當于588個節點不需要進行物理接入測試,這意味著與之相關的夾具和在線測試費用都能節省下來.
由于IC封裝尺寸越來越大,一些BGA有接 近2,000個焊球,由底部測試造成的焊點應力問題成為關注的焦點.采用該技術帶來的一個間接好處是,它只需要使用較少的測試針,從而減少了（特別是BGAs邊緣）焊點所受的應力（見圖3）.
焊珠探測技術娛樂的綜合體.
隨著印制板的空間變得愈加“稀缺”,這種趨勢正危及ICT中傳統測試點的可用性.探珠（Bead probe）作為測試焊盤的補充,提供了一個在印制板走線上進行測試接入而不需要額外空間的方法.從圖4可見,探珠不像傳統測試點那樣破壞走線的布局,這在一些對電路板空間要求苛刻的產品中特別有用,如手持設備、平板電視、筆記本電腦,甚至汽車電子產品.
事實上,測試焊盤比走線寬得多,它會破壞信號的阻抗特性.因此,當高速信號傳輸時,影響到信號完整性,導致更高的誤碼率.而探珠雖然在信號的走線上,但不會引起很大的失真（圖6）.
根據產品及其設計布局,探珠可以幫助測試印制板組件上5～35％的節點.
IEEE 1149.1 邊界掃描（dot 1）EE1149.1標準是在1990年由電氣和電子工程師協會（IEEE）批準的,它可以無需了解芯片的核心邏輯功能卻能進行測試.這在很大程度上是通過一連串寄存器鏈串聯使用而實現的,每個寄存器都與器件的一個信號引腳相連.這個邊界寄存器位于器件的核心邏輯單元和通向器件封裝外部的引腳之間.邊界寄存器的這些功能是由TAP控制器所控制,而這個架構全部是在器件中的硅片上實現的（如圖7所示）.
通過連接兩個或兩個以上的有邊界掃描功能的器件（見圖8）,形成一個互連節點.在制造業中,測試主要用于發現短路和開路缺陷,它是通過測試芯片間互連節點比特的特定順序來實現的.利用特殊的輸入模式的類型（一種特定的模式）,通過對相應輸出的判別,可以確定缺陷的種類和位置.
邊界寄存器可以驅動和接收信號,因此無需互連節點的物理接入測試.
IEEE 1149.1在ICT中的實現,意味著有能力按此標準執行測試.更大的好處是非邊界掃描節點能夠和邊界掃描節點串聯在一起進行測試,從而提高測試覆蓋率.
IEEE 1149.6 邊界掃描（dot 6）2003 年, IEEE 發布了針對交流耦合信號的IEEE1149.6標準.概括地說,IEEE 1149.1標準對于直流信號的意義等同于IEEE 1149.6標準對于交流耦合信號的意義.這種類型的信號連接通常是用驅動器和接收器之間的耦合電容來表示的.
在一個像這樣的拓撲結構中,通過電容傳遞和接收器RX接收到的信號會隨時間推移而衰減（如圖9所示）.IEEE1149.1標準對于衰減信號并不適用,因為在接收端的邊界寄存器不具備這種功能.IEEE 1149.6標準可以適用于這種情況,其在ICT中的應用,擴展了邊界掃描的應用范圍.
硅針進一步利用邊界掃描技術,就有可能使用邊界寄存器的“Per Pin”驅動和接收能力去測試非邊界掃描器件,就像使用測試探針一樣；而“硅針”正是基于這樣一種技術并有別于“物理”探針的一個術語（見圖10）.
這個工具在ICT中使用時,允許同時使用硅針和“物理”探針,使其成為解決受限接入測試難題的一個多功能且強大的解決方案.
Drive-thruICT中廣為應用的一個技術就是無矢量測試,如安捷倫的VTEP測試.Drive-Thru是一種衍生技術.
圖11a中,傳統的VTEP測試使用探針 A輸入激勵信號,VTEP探針獲得電容值.有了Drive-Thru,探針A可以 被去掉,而改為使用探針B（圖11b）.現在,從探針B到被測器件（DUT）的信號通道經過一個電阻器.因此,通過VTEP測試還能確定是否電阻存在,如果沒有該電阻將導致開路和VTEP測試失敗.
這種技術不僅限于使用電阻,也適用于其它無源器件.沒有探針A的缺點是不能測量出電阻值,而測量電阻值需要兩根探針.
軟件分析工具管理多種工具是個難題.用戶應使用哪些工具；用戶應如何對這些工具的應用進行優化？是否有一種方法,使用戶可以模擬工具的應用,并生成報告提供給設計團隊？因此,有必要把管理不同受限測試策略的全面方法作為工具庫的一部分.例如安捷倫的接入顧問（Agilent Acess Consultant）—— 一種在線測試分析軟件.
結論盡管傳統的ICT需要物理接入測試,但整個行業依靠創新和發展正在逐步解決受限接入測試的難題.事實上,這類問題不會消失,隨著小型化、復雜化趨勢的加劇,人們肯定期待將來出現更多的工具,以應對市場的壓力.
作者簡介：Andrew Tek是安捷倫科技測量系統部門的產品營銷工程師,有10年ICT行業的工作經驗.他過去8年來一直在安捷倫科技工作,重點從事新型ICT的應用推廣.
